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China
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UP-S grade
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Meets requirements for IC devices with critical geometries between 0.*5and 0.8micron. Trace metallic levels reported 1 parts-per-billion or less. Certified for particles down to 0.2micron and filtered through 0.*5micron media. Packaged into high-purity containers clean-rooms using closed-filled systems. Exceeds SEMI C8 standard.
| Pays: | China |
| N ° de modèle: | UP-S grade |
| Prix FOB: | Obtenir le dernier prix |
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